Gen-Z 1C 85 Ohm For PCIe 5.0 SI Test Fixture #ZLS01051103

PCIE4.0, PCIE5.0, SAS4.0, SAS5.0GEN-Z 1C85 Ohm ±5% Differential StriplineSFF-TA-1002Gold Finger Plug

HSIO信号路由
85 Ohm ±5% Differential Stripline92 Ohm ±5% Differential Stripline
封装类型
GEN-Z 1CGEN-Z 2CGEN-Z 4C
安装方式
Gold Finger PlugSurface Mount
200件在途库存,预计2025年11月23日送达
顺丰速运,免运费
Gen-Z 1C 85 Ohm For PCIe 5.0 SI Test Fixture
200件在途库存
兆龙互连 Gen-Z 1C 85 Ohm For PCIe 5.0 SI 测试夹具是一款专为验证 Gen-Z 1C接口在高速传输环境下信号完整性而设计的测试夹具。它符合SAS4.0/5.0和PCIe 4.0/5.0规范中的信号完整性测试要求。通过精确的多通道测试,该夹具能够评估高速数据传输中的抖动、信号衰减、串扰等关键参数。其多层PCB设计和去嵌入结构,确保测试结果的准确性,适用于存储设备、服务器以及其他高性能互联环境中的高速连接器和系统测试。
产品特征
基于Gen-Z 1C标准金手指,符合 SFF-TA-1002 规范
采用56针连接器,优化空间布局,确保信号稳定传输
支持4条TX(发送)和4条RX(接收)高速IO信号通道
多层PCB设计,提供良好的信号完整性和电源管理
符合 SAS4.0/5.0 条款的 SI 测试夹具
符合 PCIe4.0/5.0 条款,用于 SI 测试夹具